GB/T 4937.23-2023-半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命-国家标准馆·国家数字标准馆

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半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life

发布日期： 2023-05-23

实施日期： 2023-12-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L40电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体分立器件综合

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州信安电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、广东科信电子有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司

起草人：冉红雷、张魁、张忠祥、黄杰、彭浩、魏兵、尹丽晶、徐昕、柯汉忠、颜天宝、刘银燕

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