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标准号
发布时间
被代替
GB/T 1558-2009
硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
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Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2009-10-30
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 1551-2009
硅单晶电阻率测定方法
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Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2009-10-30
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 14146-2009
硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法
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Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2009-10-30
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
废止
GB/T 14863-2013
用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
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Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-12-31
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
作废
SJ/T 11390-2009
无铅焊料试验方法
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Test method for lead-free solders
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2009-11-17
CCS分类：
L90电子技术专用材料
ICS分类：
25.160.50钎焊和低温焊
现行
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料
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Requirements for solders for high-quality interconnections in electronics assembly
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-05-15
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 11446.3-2013
电子级水测试方法通则
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Generic rules for test methods of electronic grade water
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-12-31
CCS分类：
L90电子技术专用材料
ICS分类：
31.030电子技术专用材料
正在起草
20240143-T-469
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法
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Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates —Infrared reflectance method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2024-03-25
CCS分类：
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 11446.1-2013
电子级水
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Electronic grade water
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-12-31
CCS分类：
L90电子技术专用材料
ICS分类：
31.030电子技术专用材料
现行
GB/T 31474-2015
电子装联高质量内部互连用助焊剂
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Soldering fluxes for high-quality interconnections in electronics assembly
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-05-15
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
29.045半导体材料
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