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YS/T 28-2015
硅片包装
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Package of silicon wafers
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2015-04-30
现行
YS/T 15-2015
硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
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Test method for thickness of epitaxial layers and diffused layers by angle lap stain
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2015-04-30
现行
YS/T 14-2015
异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
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Test method for thickness of heteroepitaxy layers and polycrystalline layers
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2015-04-30
现行
GB/T 24578-2015
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
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Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
现行
GB/T 12962-2015
硅单晶
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Monocrystalline silicon
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
现行
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
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Specification for order entry format of silicon wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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