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起草单位: 陕西天宏硅材料有限责任公司
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发布时间
现行
JB/T 12067-2014
TDL-GX 硅芯生长炉
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TDL-GX silicon core growing furnace
发布单位或类别：
行业标准-机械
发布日期：
2014-07-09
CCS分类：
K61工业电热设备
ICS分类：
25.180.10电炉
现行
YS/T 1301-2019
氯硅烷中三氯氧磷、三氯化磷的测定 气相色谱质谱联用法
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Determination of phosphorus oxychloride,phosphorus trichloride in chlorosilanes-Gas chromatography-mass spectrometry method
发布单位或类别：
行业标准-有色金属
发布日期：
2019-08-02
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
被代替
GB/T 35306-2017
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2017-12-29
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
被代替
GB 29447-2012
多晶硅企业单位产品能源消耗限额
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The norm of energy consumption per unit products of polysilicon enterprise
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2012-12-31
CCS分类：
F01技术管理
ICS分类：
27.010能源和热传导工程综合
现行
YS/T 1300-2019
氯硅烷中甲基二氯硅烷、三甲基氯硅烷、甲基三氯硅烷的测定 气相色谱质谱联用法
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Determination of methyldichlorosilane,trimethylchlorosilane and methyltrichlorosilane in chlorosilanes-Gas chromatography-mass spectrometry method
发布单位或类别：
行业标准-有色金属
发布日期：
2019-08-02
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 30453-2013
硅材料原生缺陷图谱
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Metallographs collection for original defects of crystalline silicon
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-12-31
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
T/CNIA 0012-2019
硅粉中硼、磷、铁、铝、钙、钛含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2019-02-13
CCS分类：
H10/19金属化学分析方法
ICS分类：
77.040.01金属材料试验综合
被代替
GB/T 35307-2017
流化床法颗粒硅
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Granular polysilicon produced by fluidized bed method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2017-12-29
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
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