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起草人: 何兰英
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GB/T 4058-2009
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
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Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2009-10-30
现行
GB/T 11072-2009
锑化铟多晶、单晶及切割片
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Indium antimonide polycrystal,single crystals and as-cut slices
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2009-10-30
现行
GB/T 1554-2009
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
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Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2009-10-30
被代替
GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法
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Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2009-10-30
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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