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被代替
GB/T 17684-1999
贵金属及其合金术语
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The terminology for precious metals and their alloys
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1999-03-04
CCS分类：
H68贵金属及其合金
ICS分类：
77.150有色金属产品
被代替
GB/T 1550-1997
非本征半导体材料导电类型测试方法
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Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1997-06-03
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040.01金属材料试验综合
被代替
GB/T 1553-1997
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
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Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1997-06-03
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040.01金属材料试验综合
被代替
GB/T 1558-1997
硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
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Test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1997-12-22
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 14844-1993
半导体材料牌号表示方法
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Designations of semiconductor materials
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1993-12-24
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
被代替
GB/T 14264-1993
半导体材料术语
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Semiconductor materials—Terms and definitions
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1993-03-12
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
被代替
GB/T 12963-1996
硅多晶
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Polycrystalline silicon
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1996-11-04
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 12962-1996
硅单晶
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Monocrystalline silicon
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1996-11-04
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 16596-1996
确定晶片坐标系规范
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Specification for establishing a wafer coordinate system
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1996-11-04
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 16595-1996
晶片通用网格规范
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Specification for a universal wafer grid
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1996-11-04
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
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