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起草人: 张魁
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现行
GB 50643-2010
橡胶工厂职业安全与卫生设计规范(附条文说明)
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Code for design of occupational safety and hygiene of rubber factory
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2010-11-03
CCS分类：
ICS分类：
现行
GB/T 50643-2018
橡胶工厂职业安全卫生设计标准
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Standard of occupational safety and health designs for rubber factory
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-03-16
CCS分类：
ICS分类：
被代替
LY/T 1558-2000
仁用杏丰产技术
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High-yielding techniques of apricot used with kernel
发布单位或类别：行业标准-林业
发布日期： 2000-11-10
现行
DL/T 2252-2021
智能变电站继电保护及相关二次设备镜像调试技术规范
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Technical specifications for image inspection and test of relay and related secondary equipment in smart substation
发布单位或类别：行业标准-电力
发布日期： 2021-01-07
正在批准
20204847-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法
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Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods–Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-12-24
正在批准
20201542-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND）
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Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-04-01
正在批准
20230657-T-339
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第2部分：基于热功率的热电能量收集器
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Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 2: Thermo power based thermoelectric energy harvesting
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-08-06
CCS分类：L47其他
正在批准
20213170-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
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Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
正在批准
20213176-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验
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Semiconductor devices – Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
正在批准
20214739-T-339
电子元器件 半导体器件的长期贮存 第3部分：数据
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Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-12-31
CCS分类：L55微电路综合
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