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排序结果:
相关性
标准号
发布时间
正在批准
20201546-T-339
半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
发布单位或类别:
国家标准计划
下达日期:
2020-04-01
CCS分类:
L40半导体分立器件综合
ICS分类:
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20201539-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法
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Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布单位或类别:
国家标准计划
下达日期:
2020-04-01
CCS分类:
L40半导体分立器件综合
ICS分类:
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
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Integrated circuits—Memory devices pin configuration
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-09-17
CCS分类:
L55微电路综合
ICS分类:
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 39393-2020
家用电器专用智能控制单元技术规范
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Technical specification of intelligent controller unit for household appliances
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2020-11-19
CCS分类:
Y60家用电器基础标准与通用方法
ICS分类:
97.030家用电气设备综合
正在批准
20201547-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
发布单位或类别:
国家标准计划
下达日期:
2020-04-01
CCS分类:
L40半导体分立器件综合
ICS分类:
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20210839-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
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Semiconductor devices - Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
发布单位或类别:
国家标准计划
下达日期:
2021-04-30
CCS分类:
L55微电路综合
ICS分类:
31.080.01半导体器分立件综合
现行
T/CIE 120-2021
半导体集成电路硬件木马检测方法
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发布单位或类别:
团体标准
发布日期:
2021-11-22
CCS分类:
L55微电路综合
ICS分类:
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CIE 147-2022
空间行波管加速寿命试验评估技术规范
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发布单位或类别:
团体标准
发布日期:
2022-12-31
CCS分类:
L40半导体分立器件综合
ICS分类:
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
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Logic digital integrated circuits—Specification for I/O interface model for integrated circuit
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-03-15
CCS分类:
L56半导体集成电路
ICS分类:
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CIE 117-2021
MEMS器件机械冲击试验方法
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发布单位或类别:
团体标准
发布日期:
2021-11-22
CCS分类:
L55微电路综合
ICS分类:
31.200集成电路、微电子学
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