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正在批准
20201546-T-339
半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01
正在批准
20201539-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01
现行
Integrated circuits—Memory devices pin configuration
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-09-17
CCS分类:L55微电路综合
现行
GB/T 39393-2020
家用电器专用智能控制单元技术规范
Technical specification of intelligent controller unit for household appliances
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2020-11-19
正在批准
20201547-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01
正在批准
20210839-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices - Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-04-30
CCS分类:L55微电路综合
现行
T/CIE 120-2021
半导体集成电路硬件木马检测方法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2021-11-22
CCS分类:L55微电路综合
现行
T/CIE 147-2022
空间行波管加速寿命试验评估技术规范
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-12-31
现行
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
Logic digital integrated circuits—Specification for I/O interface model for integrated circuit
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-03-15
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2021-11-22
CCS分类:L55微电路综合