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起草人: 章晓文
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GB/T 23587-2024
淀粉制品质量通则
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General rules for starch product
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-07-24
正在批准
20213171-T-339
半导体器件 恒流电迁移试验
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Semiconductor devices – Constant current electromigration test
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
CCS分类：L55微电路综合
正在批准
20213170-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
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Semiconductor devices - Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
CCS分类：L55微电路综合
正在批准
20210839-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验
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Semiconductor devices - Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-04-30
CCS分类：L55微电路综合
正在批准
20213176-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验
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Semiconductor devices – Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
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