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  • 标准号
  • 发布时间
现行
T/CASAS 026-2023
碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2023-06-19
CCS分类:
ICS分类:
现行
T/CASAS 032-2023
碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2023-06-19
CCS分类:
ICS分类:
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-09-22
CCS分类:
现行
T/ZSPH 02-2021
智慧城市 智慧多功能杆工程技术规范
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2021-09-13
现行
T/CALI 0806-2022
商用精装房产用照明产品智能化评价及照明光环境验收要求
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-09-22
CCS分类:
作废
CB/T 2999-2010
船舶设计单位设计条件基本要求及评价方法
Basic requirement and evaluation method of design condition for ship design organization
发布单位或类别:行业标准-船舶
发布日期: 2010-04-22
CCS分类:U01技术管理
现行
Silicon carbide epitaxial wafers
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-04-25
现行
GB/T 43493.1-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1: Classification of defects
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28
现行
GB/T 43493.2-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2: Test method for defects using optical inspection
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28
现行
Collection of metallographs on defects in silicon carbide crystal materials
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28