登 录
注 册
个人中心
退出账号
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国内舆情
国际舆情
文献服务
知识服务
服务站点
标准数字化
技贸措施研究
国家标准馆
国家数字标准馆
发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
起草人: 黄黎
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(8)
标准组织
全部
国家标准(5)
有色金属(2)
团体标准(1)
发布年代
全部
2024(1)
2021(1)
2018(3)
2014(1)
2012(1)
2010(1)
标准状态
全部
现行(7)
被代替(1)
ICS
全部
29电气工程(1)
35信息技术、办公机械(1)
77冶金(6)
CCS
全部
H冶金(7)
展开全部分类
排序结果：
相关性
标准号
发布时间
被代替
GB/T 26068-2010
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2011-01-10
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
YS/T 679-2018
非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors-Surface photovoltage method
发布单位或类别：
行业标准-有色金属
发布日期：
2018-10-22
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
YS/T 839-2012
硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for measurement of insulator thickness and refractive index on silicon substrates by ellipsometry
发布单位或类别：
行业标准-有色金属
发布日期：
2012-11-07
CCS分类：
H68贵金属及其合金
ICS分类：
77.120.99其他有色金属及其合金
现行
GB/T 26068-2018
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 14146-2021
硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2021-05-21
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 1550-2018
非本征半导体材料导电类型测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 30859-2014
太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2014-07-24
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
T/JSCS 0007-2024
软件技术双师标准
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2024-09-02
CCS分类：
ICS分类：
35.080软件开发和系统文件
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火，禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
5. 请注意仪表着装，衣冠整洁得体，言谈举止文明。
6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
取消
确认预约到馆
搜索
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
️版权归中国标准化研究院所有