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ISO/TR 18392:2005
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds
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表面化学分析——X射线光电子能谱；确定背景的程序
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2005-11-17
CCS分类：
废止
ISO/TR 18394:2006
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Derivation of chemical information
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表面化学分析——俄歇电子能谱；化学信息的推导
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2006-08-08
CCS分类：
现行
ISO 24236:2005
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Repeatability and constancy of intensity scale
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表面化学分析——俄歇电子能谱；强度标度的重复性和恒常性
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2005-04-19
CCS分类：
废止
ISO 15471:2004
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
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表面化学分析——俄歇电子能谱；所选仪器性能参数的说明
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2004-05-04
CCS分类：
废止
ISO 15470:2004
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
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表面化学分析——X射线光电子能谱；所选仪器性能参数的说明
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2004-05-03
CCS分类：
废止
ISO 18118:2004
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
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表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——均质材料定量分析用实验测定的相对灵敏度系数的使用指南
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2004-05-21
CCS分类：
废止
ISO 20903:2006
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
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表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.报告结果时确定峰值强度和所需信息的方法
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2006-07-04
CCS分类：
废止
ISO 19318:2004
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction
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表面化学分析——X射线光电子能谱；报告用于充电控制和充电校正的方法
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2004-05-05
CCS分类：
现行
ISO 15471:2016
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
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表面化学分析 - 俄歇电子能谱 - 所选仪器性能参数的描述
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2016-09-05
CCS分类：
现行
ISO 16129:2018
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
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表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2018-11-15
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