KS B ISO 14997-2019-光学和光子学 - 光学元件表面缺陷的测试方法-国家数字标准馆

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광학 및 포토닉스 — 광학 부품 표면 결함에 대한 시험 방법 光学和光子学 - 光学元件表面缺陷的测试方法

发布日期： 2019-12-13

该标准对表面缺陷的测量，KS B ISO 10110-7规定的两种试验方法，规定了测量原理和有效方法。这些方法有以缺陷遮蔽或影响面积为准的方法1和以缺陷可见度为准的方法2。两种方法都适用于多种光学零件原型（prototype）的小批量生产或批量生产的检验，与特定零件相关出现的外形缺陷或功能方面的允许误差可以通过供应商和客户之间的协商决定。

이 표준은 표면 결함의 측정에 대하여 KS B ISO 10110－7에 규정된 두 가지의 시험방법에 대하여 측정 원리와 효과적인 방법을 규정한다. 이러한 방법들은 결함에 의하여 차폐되거나 영향을 받은 면적을 기준으로 하는 방법 1과 결함의 가시도를 기준으로 하는 방법 2가 있다.두 방법 모두 다양한 광학 부품의 원형(prototype)의 소량 생산이든 대량 생산이든 검사에 적합하며, 특정한 부품과 관련되어 나타나는 외형 결함이나 기능면에서의 허용 오차는 공급자와 고객 간의 협의를 통해 결정될 수 있다.

分类信息

发布单位或类别：韩国-韩国标准

ICS分类： 37.020成像技术 - 光学设备

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