GB/T 4937.18-2018-半导体器件　机械和气候试验方法　第18部分：电离辐射(总剂量)-国家数字标准馆

现行 GB/T 4937.18-2018

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半导体器件　机械和气候试验方法　第18部分：电离辐射(总剂量) Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18:Ionizing radiation(total dose)

发布日期： 2018-09-17

实施日期： 2019-01-01

GB/T 4937 的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行 60 Co γ 射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L40电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体分立器件综合

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、西北核技术研究所

起草人：席善斌、彭浩、郭旗、陆妩、陈伟、林东生、何宝平、金晓明、崔波、陈海蓉

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