GB/T 4937.12-2018-半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动-国家数字标准馆

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半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency

发布日期： 2018-09-17

实施日期： 2019-01-01

GB/T 4937 的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与 GB/T 2423.10-2008 基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L40电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体分立器件综合

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人：迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰

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