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起草单位: 上海有色金属研究所
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被代替
GB/T 6617-1995
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
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Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1995-04-18
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.120有色金属
被代替
GB/T 6616-1995
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
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Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1995-04-18
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
29.045半导体材料
被代替
GB/T 1551-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
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Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1995-04-18
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040.30金属材料化学分析
被代替
GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
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Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1995-04-18
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040.30金属材料化学分析
废止
GB/T 14145-1993
硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
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Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1993-02-06
CCS分类：
H24金相检验方法
ICS分类：
49.090机上设备和仪器
作废
GB/T 4325.16-1984
钼化学分析方法 原子吸收分光光度法测定镁量
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Methods for chemical analysis of molybdenum--The atomic absorption spectrophotometric method for the determination of magnesium content
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1984-04-12
CCS分类：
H14稀有金属及其合金分析方法
ICS分类：
77.080黑色金属
作废
GB/T 4324.16-1984
钨化学分析方法 原子吸收分光光度法测定镁量
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Methods for chemical analysis of tungsten--The atomic absorption spectrophotometric method for the determination of magnesium content
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1984-04-12
CCS分类：
H14稀有金属及其合金分析方法
ICS分类：
77.080黑色金属
现行
GB/T 4325.18-2013
钼化学分析方法 第18部分：钒量的测定 钽试剂分光光度法和电感耦合等离子体原子发射光谱法
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Methods for chemical analysis of molybdenum - Part 18: Determination of vanadium content - N-benzoyl-N-phenylhydroxylamine spectrophotometry and inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-05-09
CCS分类：
H63稀有高熔点金属及其合金
ICS分类：
77.120.99其他有色金属及其合金
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北京市海淀区知春路4号
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