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起草单位: 浙江省硅材料质量检验中心
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发布时间
被代替
GB/T 32280-2015
硅片翘曲度测试自动非接触扫描法
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Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-12-10
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
正在起草
20241911-T-469
太阳能电池用硅单晶及硅单晶片
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Mono-crystalline silicon ingots and wafers for photovoltaic solar cells
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2024-06-28
CCS分类：
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 24578-2015
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
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Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-12-10
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
YS/T 28-2015
硅片包装
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Package of silicon wafers
发布单位或类别：
行业标准-有色金属
发布日期：
2015-04-30
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
SJ/T 11630-2016
太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
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Test method for geometric dimension of silicon wafers for solar cell
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2016-04-05
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
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Monocrystalline silicon as cut wafers and lapped wafers
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-09-17
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 16595-2019
晶片通用网格规范
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Specification for a universal wafer grid
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2019-03-25
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 14844-2018
半导体材料牌号表示方法
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Designations of semiconductor materials
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
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Specification for order entry format of silicon wafers
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-12-10
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 16596-2019
确定晶片坐标系规范
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Specification for establishing a wafer coordinate system
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2019-03-25
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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