登 录
注 册
个人中心
退出账号
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国内舆情
国际舆情
文献服务
知识服务
服务站点
标准数字化
技贸措施研究
国家标准馆
国家数字标准馆
发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
起草单位: 北京聚睿众邦科技有限公司
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(11)
标准组织
全部
团体标准(7)
国家标准(3)
国家标准研制计划(1)
发布年代
全部
2024(2)
2022(1)
2021(1)
2020(4)
2019(3)
标准状态
全部
现行(10)
ICS
全部
01综合、术语学、标准化、文献(1)
19试验(1)
29电气工程(6)
77冶金(3)
CCS
全部
A综合(1)
D矿业(1)
H冶金(7)
展开全部分类
排序结果：
相关性
标准号
发布时间
现行
T/ZSA 38-2020
SiC晶片的残余应力检测方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2020-12-17
CCS分类：
H80/84半金属与半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
T/ZSA 231-2024
氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2024-05-15
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 11094-2020
水平法砷化镓单晶及切割片
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Gallium arsenide single crystal and cutting wafer grown by horizontal bridgman method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2020-09-29
CCS分类：
H83化合物半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 39144-2020
氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for magnesium content in gallium nitride materials—Secondary ion mass spectrometry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2020-10-11
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 38976-2020
硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for the oxygen concentration in silicon materials—Inert gas fusion infrared detection method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2020-07-21
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
正在起草
20240136-T-469
金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for dislocation density of diamond single crystal polished wafers
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2024-03-25
CCS分类：
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
T/CASAS 002-2021
宽禁带半导体术语
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2021-03-08
CCS分类：
D00/09矿业综合
ICS分类：
01.020术语学(原则和协调配合)
现行
T/IAWBS 017-2022
金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2022-12-15
CCS分类：
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
T/ZGIA 001-2019
石墨烯测试方法 粉体电导率的测定 四探针法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2019-12-16
CCS分类：
A20/39基础标准
ICS分类：
19.020试验条件和规程综合
现行
T/ZSA 72-2019
碳化硅单晶
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2019-12-31
CCS分类：
H80/84半金属与半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火，禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
5. 请注意仪表着装，衣冠整洁得体，言谈举止文明。
6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
取消
确认预约到馆
搜索
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
️版权归中国标准化研究院所有