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GB/T 7826-2012
系统可靠性分析技术　失效模式和影响分析(FMEA)程序
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Analysis techniques for system reliability—Procedure for failure mode and effects analysis(FMEA)
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2012-11-05
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20213173-T-339
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验
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Semiconductor devices—Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
CCS分类：L55微电路综合
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20201539-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
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Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-04-01
正在批准
20231578-T-339
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第5部分：柔性材料热特性测试方法
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Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices- Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible material
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-01
CCS分类：L47其他
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20204843-T-339
可靠性数据分析方法—两种恒定失效率和两个恒定失效密度（事件）的比较程序
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Reliability data analysis techniques – Procedures for comparison of two constant failure rates and two constant failure (event) intensities
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-12-24
正在批准
20201546-T-339
半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-04-01
正在批准
20213171-T-339
半导体器件 恒流电迁移试验
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Semiconductor devices—Constant current electromigration test
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
未生效
GB/T 44787-2024
静电控制参数实时监控系统通用规范
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General specification for real-time monitoring system of electrostatic control parameter
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-10-26
正在批准
20213170-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
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Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
现行
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
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Integrated circuits—Memory devices pin configuration
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-09-17
CCS分类：L55微电路综合
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