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L电子元器件与信息技术(9)
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标准号
发布时间
现行
GB/T 4937.11-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-09-17
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 20870.5-2023
半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器
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Semiconductor devices—Part 16-5: Microwave integrated circuits—Oscillators
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 4937.26-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-09-17
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 4937.13-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-09-17
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 42972-2023
微波电路 检波器测试方法
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Microwave circuits—Test methods for detector
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 4937.27-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-05-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 20870.2-2023
半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器
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Semiconductor devices—Part 16-2: Microwave integrated circuits—Frequency prescalers
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20213173-T-339
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验
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Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-08-24
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
T/CASAS 029-2023
Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2023-06-30
CCS分类：
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
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北京市海淀区知春路4号
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