现行

KS C IEC 60747-11(2017 Confirm)

개별 반도체 소자－제11부：개별 소자의 품종 규격
分立半导体器件第11部分:分立器件分规范

2002-12-31

现行

UNE 20700-11-1991

SEMICONDUCTOR DEVICES. PART 11: SECTIONAL SPECIFICATION FOR DISCRETE DEVICES.
半导体器件 第11部分:分立器件分规范

1991-09-12

现行

GOST 28624-1990

Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы
半导体器件 第11部分分立器件的部分规范

现行

BS IEC 60747-14-4-2011

Semiconductor devices. Discrete devices-Semiconductor accelerometers
半导体器件 分立器件

2011-02-28

现行

BS IEC 60747-6-2016

Semiconductor devices-Discrete devices. Thyristors
半导体器件

2016-04-30

现行

BS IEC 60747-10-1991

Semiconductor devices-Generic specification for discrete devices and integrated circuits
半导体器件 分立器件和集成电路总规范

2011-07-31

现行

BS IEC 60747-7-2010+A1-2019

Semiconductor devices. Discrete devices-Bipolar transistors
半导体器件 分立器件

2019-10-23

现行

BS EN 60747-2-2016

Semiconductor devices-Discrete devices. Rectifier diodes
半导体器件

2018-02-06

现行

BS IEC 60747-2-2016

Semiconductor devices. Discrete devices. Rectifier diodes
半导体器件 离散设备 整流二极管

2018-02-06

现行

GB/T 12565-1990

半导体器件 光电子器件分规范 （可供认证用）
Semiconductor devices--Sectional specification for optoelectronic devices

1990-12-12

现行

BS QC 750100-1986+A2-1996

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
电子元件质量评定协调体系 分立半导体器件 分规范

2010-01-31

现行

BS QC 750100-1986

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Discrete semiconductor devices. Sectional specification
电子元件质量评定协调体系 分立半导体器件 分规范

1986-12-31

现行

IEC 60747-15-2024 RLV

Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
半导体器件第15部分:分立器件隔离功率半导体器件

2024-10-22

现行

IEC 60747-15-2024

Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
半导体器件第15部分:分立器件隔离功率半导体器件

2024-10-22

现行

KS C IEC 60747-5

반도체 소자 — 개별 소자 —제5부: 광전소자
半导体器件分立器件第5部分:光电器件

2020-12-24

现行

GB/T 20516-2006

半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices

2006-10-10

现行

BS IEC 60747-8-2010+A1-2021

Semiconductor devices. Discrete devices-Field-effect transistors
半导体器件 分立器件

2021-07-09

现行

IEC 60747-6-2016

Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors
半导体器件 - 第6部分:分立器件 - 晶闸管

2016-04-13

现行

KS C IEC 60747-6(2016 Confirm)

반도체 소자－개별 소자－제6부：사이리스터
半导体器件分立器件第6部分:晶闸管

2006-12-27

现行

KS C IEC 60747-6

반도체 소자 — 제6부：개별 소자 —사이리스터
半导体器件第6部分:分立器件晶闸管

2021-12-29