IEC TR 62878-2-2:2015-嵌入式器件基板.第2-2部分:指南.电气试验-国家数字标准馆

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Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing 嵌入式器件基板.第2-2部分:指南.电气试验

发布日期： 2015-12-04

IEC TR 62878-2-2:2015描述了设备嵌入式基板电气测试的必要信息。这包括互连开路和短路测试以及设备功能测试。它还通过演示设备嵌入式基板的电气测试提供了指南。

IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 31.190电子学 - 电子元器件组件、 31.180电子学 - 印制电路和印制电路板

关联关系

研制信息

归口单位： TC 91

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