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现行 IEC 63364-1:2022
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Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection 半导体器件物联网系统用半导体器件第1部分:声音变化检测的试验方法
发布日期: 2022-12-14
IEC 63364-1:2022规定了基于物联网的声音变化检测系统的术语、测试方法和报告。它在框图中提供了基于物联网的声音变化检测系统各部分的评估方法、表征参数、符号、测试设置和条件。此外,本文件还定义了物联网声场变化检测系统质量评估测量的标准空间和发射情况的配置项目和标准。
IEC 63364-1:2022 specifies terms, the test method, and the report of sound variation detection system based on IoT. It provides the evaluation method for each part of the sound variation detection system based on IoT in the block diagram, the characterization parameters, symbols, test setups and the conditions. In addition, this document defines the configuration items and criteria of standard space and firing situation for the quality evaluation measurement of sound field variation detection system with IoT.
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归口单位: TC 47
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