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ASTM F980-16
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
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硅半导体器件中子诱发位移损伤快速退火的标准指南
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2016-12-01
CCS分类：
现行
ASTM F980-16(2024)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
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硅半导体器件中中子引起的位移损伤的快速退火测量的标准指南
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2024-01-01
CCS分类：
现行
ASTM F1467-18
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (≈10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
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使用X射线测试仪的标准指南（
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2018-03-01
CCS分类：
历史
ASTM F526-97(2003)
Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests
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直线加速器脉冲辐射效应试验用剂量测量的标准试验方法
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 1997-12-10
CCS分类：
ICS分类：17.240辐射测量
历史
ASTM E265-07(2013)
Standard Test Method for Measuring Reaction Rates and Fast-Neutron Fluences by Radioactivation of Sulfur-32
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通过硫-32的放射性测量反应速率和快中子流量的标准测试方法
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2013-01-01
CCS分类：
ICS分类：17.240辐射测量
现行
ASTM F448-18
Standard Test Method for Measuring Steady-State Primary Photocurrent
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测量稳态初级光电流的标准测试方法
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2018-03-01
CCS分类：
历史
ASTM E1894-08
Standard Guide for Selecting Dosimetry Systems for Application in Pulsed X-Ray Sources
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脉冲X射线源用剂量测定系统选择的标准指南
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2008-09-15
CCS分类：
ICS分类：17.240辐射测量
历史
ASTM E722-04e1
Standard Practice for Characterizing Neutron Energy Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics
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电子设备辐射硬度试验用等效单能中子注量表征中子能量注量谱的标准实施规程
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2004-06-01
CCS分类：
历史
ASTM E720-16
Standard Guide for Selection and Use of Neutron Sensors for Determining Neutron Spectra Employed in Radiation-Hardness Testing of Electronics
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选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2016-12-01
CCS分类：
历史
ASTM E722-04e2
Standard Practice for Characterizing Neutron Energy Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics
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电子设备辐射硬度试验用等效单能中子注量表征中子能量注量谱的标准实施规程
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2005-02-15
CCS分类：
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