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半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part5: Steady-state temperature humidity bias life test
下达日期: 2013-08-01
适用于半导体分立器件和集成电路.主要用于器件的合格鉴定.本标准将规定半导体器件稳态温湿度偏置寿命试验的目的和范围、试验设备要求、试验条件、程序和失效判据等内容.
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