GB/T 4937.32-2023-半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）-国家数字标准馆

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半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的） Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices（externally induced）

发布日期： 2023-05-23

实施日期： 2023-12-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L40电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体分立器件综合

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司

起草人：裴选、张魁、黄纪业、席善斌、彭浩、魏兵、林瑜攀、颜天宝

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