首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 BS ISO 18337:2015
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Surface chemical analysis. Surface characterization. Measurement of the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope 表面化学分析 表面表征 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
发布日期: 2015-06-30
BS ISO 18337:2015描述了一种确定共焦透镜横向分辨率的方法 荧光显微镜(CFM)通过成像一个比预期尺寸小得多的物体 决议交叉引用:ISO 18115-1ISO 18516购买本文件时可获得的所有现行修订均包含在购买本文件中。
BS ISO 18337:2015 describes a method for determining the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope (CFM) by imaging an object with a size much smaller than the expected resolution.Cross References:ISO 18115-1ISO 18516All current amendments available at time of purchase are included with the purchase of this document.
分类信息
发布单位或类别: 英国-英国标准学会
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
ISO 18337-2015
Surface chemical analysis — Surface characterization — Measurement of the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope
表面化学分析 - 表面表征 - 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
2015-06-19
现行
BS PD ISO/TR 14187-2020
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials
表面化学分析 纳米结构材料的表征
2020-07-03
现行
ISO/TR 14187-2020
Surface chemical analysis — Characterization of nanostructured materials
表面化学分析 - 纳米结构材料的表征
2020-06-30
现行
GB/T 33498-2017
表面化学分析 纳米结构材料表征
Surface chemical analysis—Characterization of nanostructured materials
2017-02-28
现行
BS PD ISO/TR 19693-2018
Surface chemical analysis. Characterization of functional glass substrates for biosensing applications
表面化学分析 用于生物传感应用的功能性玻璃基板的表征
2018-02-28
现行
ISO/TR 19693-2018
Surface chemical analysis — Characterization of functional glass substrates for biosensing applications
表面化学分析 - 用于生物传感应用的功能性玻璃基底的表征
2018-02-09
现行
KS D ISO TR 15969(2021 Confirm)
표면 화학 분석-깊이 분포 분석-스퍼터 깊이 측정
表面化学分析深度剖面溅射深度测量
2011-12-30
现行
ISO/TR 15969-2021
Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth
表面化学分析 - 深度分析 - 溅射深度的测量
2021-03-17
现行
KS D ISO TR 15969(2016 Confirm)
표면 화학 분석-깊이 분포 분석-스퍼터 깊이 측정
表面化学分析深度剖面测量溅射深度
2011-12-30
现行
GB/T 29557-2013
表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurment of sputtered depth
2013-07-19
现行
BS ISO 13095-2014
Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
表面化学分析 原子力显微镜 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
2014-08-31
现行
ISO 13095-2014
Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
2014-08-05
现行
BS ISO 11039-2012
Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Measurement of drift rate
表面化学分析 扫描探针显微镜 漂移率的测量
2012-02-29
现行
ISO 23124-2024
Surface chemical analysis — Measurement of lateral and axial resolutions of a Raman microscope
表面化学分析拉曼显微镜横向和轴向分辨率的测量
2024-04-26
现行
ISO 11039-2012
Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Measurement of drift rate
表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
2012-01-23
现行
BS PD ISO/TR 23173-2021
Surface chemical analysis. Electron spectroscopies. Measurement of the thickness and composition of nanoparticle coatings
表面化学分析 电子光谱 纳米颗粒涂层厚度和成分的测量
2021-07-08
现行
ISO/TR 23173-2021
Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Measurement of the thickness and composition of nanoparticle coatings
纳米颗粒涂层的电子光谱分析
2021-06-25
现行
BS ISO 14701-2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
2018-11-05
现行
ISO 14701-2018
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness
表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
2018-10-31
现行
ISO/TS 22933-2022
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
2022-04-01