本标准介绍了利用表面分析技术能获得的纳米结构材料的信息种类，并给出一些例子(见第4章）。本标准不仅指出了表征纳米结构材料时的普遍问题或难题，而且指出了使用特定方法时的特有途径或难题(见第5章)。当物体或材料组成部分的尺寸接近几个纳米时，“块体”“表面”和“颗粒”分析之间的差异就变得模糊不清。本标准除明确了表征纳米结构材料时的一些普遍问题外，它重点明确了与纳米结构材料表面化学分析具体相关的问题。本标准涉及多种分析和表征方法，但其重点仍是表面化学分析专业范围内的方法，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱和扫描探针显微术等。纳米颗粒表面性质(如表面电势)的某些类型测量常常是在溶液中进行的，本标准不涉及这部分内容。 尽管纳米级厚度薄膜和均匀纳米颗粒集合有很多相似之处，但表征它们面临不同的难题。本标准举例说明了既适用于薄膜又适用于颗粒或纳米物体的表征方法。能确定的性质包括存在的污染、涂层的厚度和加工前后的表面化学性质。除明确能获得的信息种类外，本标准也概括了分析前或分析过程中必须考虑的普遍问题和特定技术问题，包括需确定的信息、稳定性和探针影响、环境影响、样品处理问题和数据的解释。 本标准介绍了使用一系列特定的表面分析方法可获得的纳米材料信息，但这些信息从本质上说不可能是完整的。然而，本标准提供了重要的途径、思路和问题，同时提供了很多参考文献以便于根据需要对这些问题进行更深人的分析研究