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现行 IEC 60747-14-11:2021
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Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature 半导体器件.第14-11部分:半导体传感器.测量紫外线、照明和温度的基于表面声波的集成传感器的试验方法
发布日期: 2021-03-03
IEC 60747-14-11:2021(E)定义了可用于评估和确定与紫外线、照度和温度传感器集成的基于表面声波的半导体传感器性能特征的术语、定义、配置和测试方法。测量方法包括直流特性和射频特性,射频特性的测量方法包括基于反馈振荡的直接模式和差分放大器模式。本文件不包括TC 49涉及的设备:压电、介电和静电设备以及用于频率控制、选择和检测的相关材料。
IEC 60747-14-11:2021(E) defines the terms, definitions, configuration, and test methods can be used to evaluate and determine the performance characteristics of surface acoustic wave-based semiconductor sensors integrated with ultraviolet, illuminance, and temperature sensors. The measurement methods are for DC characteristics and RF characteristics, and the measurement method for RF characteristics includes a direct mode and differential amplifier mode based on feedback oscillation. This document excludes devices dealt with by TC 49: piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection.
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归口单位: TC 47/SC 47E
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