IEEE 1450.2-2002-直流电平规范的IEEE标准测试接口语言（STIL）扩展标准（IEEE Std 1450-1999）-国家数字标准馆

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IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for DC Level Specification 直流电平规范的IEEE标准测试接口语言（STIL）扩展标准（IEEE Std 1450-1999）

发布日期： 2003-03-18

在STIL中定义用于指定被测设备直流条件的结构。设备电源的直流条件包括:设备电源设置、设备电源顺序、电源限制/箝位。常用信号参考的直流条件示例有:VIL、VIH、VOL、VOH、IOL、IOH、VREF、VClampLow、VClampHi。在STIL中定义结构，以便DC条件可以通过模式突发、模式或向量全局指定。在STIL中定义结构，以允许指定备用直流电平。
常用的替代级别示例有:VIHH、VIPP、VILL。在STIL中定义结构，以便可以在一段时间内选择DC级别和备用级别，这与定时格式事件非常相似。

Define structures in STIL for specifying the DC conditions for a device under test. Examples of the DC conditions for device power supplies are: device power supply setup, power sequencing to the device, power supply limiting/clamping. Examples of the DC conditions for commonly used signal references are: VIL, VIH, VOL, VOH, IOL, IOH, VREF, VClampLow, VClampHi. Define structures in STIL such that the DC conditions may be specified either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector. Define structures in STIL to allow specification of alternate DC levels. Examples of commonly used alternate levels are: VIHH, VIPP, VILL. Define structures in STIL such that the DC levels and alternate levels can be selected within a period, much the same as timed format events.

分类信息

发布单位或类别：美国-美国电气电子工程师学会

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