IEC 62526:2007-标准测试接口语言（stil）用于半导体设计环境-国家数字标准馆

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Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments 标准测试接口语言（stil）用于半导体设计环境

发布日期： 2007-11-07

提供数字测试生成工具和测试设备之间的接口。定义了一种测试描述语言:（A）促进数字测试向量数据从CAE传输到ATE环境；（b） 指定模式、格式和时序信息，这些信息足以定义数字测试向量对DUT的应用；（c）支持结构化测试生成的测试向量数据量。

Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 25.040机械制造 - 工业自动化系统

关联关系

研制信息

归口单位： TC 91

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