KS C IEC 62526-2015(2020)-标准测试接口语言（stil）用于半导体设计环境-国家数字标准馆

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반도체 설계 환경의 표준 테스트 인터페이스 언어(STIL)의 확장을 위한 표준 标准测试接口语言（stil）用于半导体设计环境

发布日期： 2015-12-30

STIL被定义为支持用作半导体模拟刺激的结构，包括:（1）将信号名映射到对等设计参照；（2）扫描和内置自测试（BIST:build-in self test）及逻辑模拟之间的接口；（3）用于表达模式内未决状态的数据类型；（4）在不同设计块上执行并行或异步模式；然后（5）TIL定义了支持模式配置的基于表达式的条件执行设计子块的测试模式定义（即嵌入式核心），使这些测试可以集成到更高水平的整体元件测试中。STIL定义了一种配置，可以将元件测试环境中收到的故障信息与原来的刺激和设计数据元素重新结合起来。

반도체 시뮬레이션 자극으로 사용하는 것을 지원하기 위한 구조가 STIL로 정의되었는데, 이에는 다음과 같은 것들이 있다. (1) 신호명을 대등한 설계 참조에 매핑시키는 것, (2) 스캔과 내장 자체테스트(BIST: built-in self test) 및 논리 시뮬레이션 사이의 인터페이스, (3) 패턴 내 미결정 상태를 표현하기위한 데이터 타입, (4) 상이한 설계 블록에서의 병렬 또는 비동기화 패턴 실행, 그리고 (5) 패턴 구성의 표현식 기반 조건 실행설계 하위 블록에 대한 테스트 패턴 정의를 지원함으로써(즉, 임베디드 코어) 이러한 테스트가 보다높은 수준의 전체 소자 테스트로 통합될 수 있도록 하는 구성들이 TIL로 정의되었다4).소자 테스트 환경에서 받은 장애 정보를 원래의 자극 및 설계 데이터 요소와 재결합시킬 수 있는 구성이 STIL로 정의되었다.

分类信息

发布单位或类别：韩国-韩国标准

ICS分类： 25.040机械制造 - 工业自动化系统

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