该标准定义了测试技术语言，该语言的功能如下:方便将大量数字测试矢量数据从AE环境传递到自动测试设备（ATE）环境。明确用于定义将数字测试矢量应用于被测试设备DUT）的足够模式、格式及时间信息。结构测试（如扫描/自动测试模式生成（ATPG）、内部自检（BIST）等综合测试技术；然后，从IC设计及其组件功能测试清单生成的测试矢量数据，以优化格式支持，以便在ATE环境中应用，在任何标准中设置其范围的过程中，有些事项被定义为不符合早期的项目。部分列出与该标准的初始项目相去甚远的事项如下:电平:数字测试程序的核心观点是能够对测试对象信号确定电压和电流参数（电平）的能力。目前的标准没有明确定义等级处理，原因是这些信息简洁（不表达传递问题）。因为与数字测试数据无关，需要共同构建的其他支持机制，以脱离该标准的当前范围。各种纵断值会对等级产生影响。诊断/缺陷跟踪信息:该标准的目的是最佳地表达需要移动到ATE的信息。诊断数据、缺陷识别数据和宏/设计元素通信数据可能属于这一范畴（而且规模相当大的情况很多），该标准也将重点放在集成电路和组件测试上，而且大部分调试/故障分析都是由于其结构而与ATE分开进行的。 故障信息的退回（超出ATE范畴的分析）也按照目前的定义不属于该标准。数据记录机制、格式化和控制未定义为属于当前标准。除了用于IDDQ测试或交流时机测试等参数测试、识别电位位置的可选模式标识外，参数测试尚未定义为该标准的一部分。程序移动:除需要定义数字模式集以单个单元运行外，测试顺序指定目前定义为不属于标准。绑定（捆绑）配置目前不属于标准。模拟或混合信号测试:这是很多参与者关注的领域，但在目前的情况下，模拟测试数据的传输问题没有数字数据的传递问题那么有帮助。算法模式构成（用于记忆政治测试的通用顺序等）目前尚未定义为该标准的一部分。并行测试/多站点测试配置尚未成为当前环境的一部分。用户输入及用户控制/选项不属于当前标准。像shmoo打印这样的特性化工具目前没有定义为属于标准。

이 표준은 테스트기술언어를 정의하는데, 이 언어의 기능은 다음과 같다. 많은 양의 디지털 테스트 벡터 데이터를 AE 환경에서 자동 테스트 장비(ATE) 환경으로 전달하는 것을 편리하게 한다. 디지털 테스트 벡터를 피시험 장치DUT)에 적용하는 것을 정의하는데 충분한 패턴, 포맷 및 타이밍 정보를 명세화한다. 스캔/자동 테스트 패턴 생성(ATPG)과 같은 구조 테스트, 내장 자체시험(BIST)과 같은 종합 테스트기술, 그리고 IC 설계 및 그 어셈블리용 기능 테스트 명세서로부터 생성된 테스트 벡터 데이터를 ATE 환경에서 적용할 수 있도록 최적화시킨 포맷으로 지원한다어떤 표준에서건 그 범위를 설정하는 과정에서 어떤 사항들은 초기의 프로젝트에 부합되지 않는다고 정의되는 경우가 있다. 이 표준의 초기 프로젝트와 동떨어진 사항들을 부분적으로 나열하면 다음과 같다. 레벨: 디지털 테스트 프로그램의 핵심 관점은 테스트 대상 신호에 대해 전압과 전류 매개변수(레벨)를 정할 수 있는 능력이다. 현재의 표준에서는 레벨 취급이 명시적으로 정의되지 않았는데, 그이유는 이러한 정보가 간결할 뿐만 아니라(전달 문제는 표현하지 않음.) 디지털 테스트 데이터와 무관하게 공통적으로 구축되어 이 표준의 현재 범위에서 벗어나는 다른 지원 메커니즘이 필요하기 때문이다. 각종 종단값은 레벨에 영향을 미칠 수 있다. 진단/결함추적 정보: 이 표준의 목적은 ATE로 이동시킬 필요가 있는 정보를 최적으로 표현하는것이다. 진단 데이터, 결함 식별 데이터 및 매크로/설계요소 교신 데이터가 이러한 범주에 속할수 있는 동시에 (그리고 규모가 상당히 큰 경우가 많음), 이 표준은 집적회로와 어셈블리 테스트에도 초점을 맞추고 있으며, 또한 대부분의 디버그/장애 분석은 그 구조 때문에 ATE와 별개로 발생한다. 장애 정보의 반송(ATE의 범주를 벗어난 분석)도 현재 정의된 바에 따르면 이 표준에 속하지 않고 있다. 데이터 로깅 메커니즘, 포맷팅 및 제어는 현재의 표준에 속하는 것으로 정의되지 않고 있다. IDDQ 테스트 또는 교류 타이밍 테스트와 같은 매개변수 테스트를 위해 전위위치를 식별하는 선택적인 패턴 표식을 제외하고는, 매개변수 테스트는 이 표준의 일부로 정의되지 않고 있다. 프로그램 이동: 하나의 유니트로 실행하고자 디지털 패턴 집합을 정의할 필요가 있는 경우를 제외하고는, 테스트 순서지정은 현재 표준에 속하지 않는 것으로 정의되고 있다. 바인딩(묶기) 구성은 현재 표준에 속하지 않는다. 아날로그 또는 혼합신호 테스트: 이것이 많은 참여자들의 관심 분야이지만, 현시점에서는 아날로그 테스트 데이터의 전송 문제는 디지털 데이터의 전달 문제만큼 도움이 되지 못하고 있다. 알고리즘 패턴 구성(기억정치 테스트에 공통적으로 사용되는 순서 등)은 현재 이 표준의 일부로 정의되지 않고 있다. 병렬 테스트/멀티사이트 테스트 구성은 현재 환경의 일부가 되지 못하고 있다. 사용자 입력 및 사용자 제어/옵션들은 현재의 표준에 속하지 않고 있다. shmoo 플롯과 같은 특성화 도구들은 현재 표준에 속하는 것으로 정의되지 않고 있다.