IEEE 1450.3-2007-测试仪目标规范的IEEE标准测试接口语言（STIL）扩展标准（IEEE标准1450-1999）-国家数字标准馆

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IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std. 1450-1999) for Tester Target Specification 测试仪目标规范的IEEE标准测试接口语言（STIL）扩展标准（IEEE标准1450-1999）

发布日期： 2007-09-07

？在STIL中定义结构，以规范ATE硬件架构的资源映射。资源映射的一个例子是将测试仪资源分配给STIL向量中使用的波形字符。
？在STIL中定义结构，以包括符合STIL数据的ATE特定指令。
在STIL中定义允许？增量处理？由此，通过允许单独标识的ATE数据共存，一组STIL文件可以针对多个ATE系统。
？在STIL中定义用于定义测试仪规则检查的结构，以确保生成的一组STIL文件符合一个或多个ATE系统上的选定资源。
？在STIL中定义结构，用于指定执行一组任务所需的资源
给定ATE系统上的STIL文件。

— Define structures in STIL for the specification of resource mapping of ATE hardware architectures. An example of resource mapping is the assignment of tester resources to waveform characters that are used in STIL vectors. — Define structures in STIL for including ATE-specific instructions in-line with the STIL data. — Define structures in STIL that allow for "incremental processing" whereby, a set of STIL files may be targeted to multiple ATE systems by allowing separately identified ATE data to coexist. — Define structures in STIL for defining tester rules checks to ensure that the set of generated STIL files conform to the selected resources on one or more ATE systems. — Define structures in STIL for the specification of the resources required for the execution of a set of STIL files on a given ATE system.

分类信息

发布单位或类别：美国-美国电气电子工程师学会

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