登 录
注 册
个人中心
退出账号
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际(区域)标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国内舆情
国际舆情
文献服务
知识服务
服务站点
标准数字化
技贸措施研究
国家标准馆
国家数字标准馆
发展大事记
现行
BS EN 60191-6-1:2001
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
购买正版
选择购买版本
本服务由中国标准服务网提供
更多
前往中国标准服务网获取更多购买信息
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages-Design guide for gull-wing lead terminals
半导体器件的机械标准化 表面安装半导体器件封装外形图绘制通则
发布日期:
2002-03-29
交叉引用:IEC 60191-6:1990
Cross References:IEC 60191-6:1990
分类信息
发布单位或类别:
英国-英国标准学会
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
BS EN 60191-3-2000
Mechanical standardization of semiconductor devices-General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
半导体器件的机械标准化 集成电路外形图绘制通则
2000-06-15
现行
IEC 60191-1-2018
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
半导体器件的机械标准化 - 第1部分:分立器件外形图准备的一般规则
2018-01-23
现行
IEC 60191-6-2009
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
半导体器件机械标准化 - 第6部分:表面贴装半导体器件封装外形图准备的一般规则
2009-11-26
现行
BS EN 60191-6-10-2003
Mechanical standardization of semiconductor devices-General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages-Dimensions of P-VSON
半导体器件的机械标准化
2004-03-31
现行
IEC 60191-3-1999
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
半导体器件的机械标准化.第3部分:集成电路外形图编制的一般规则
1999-10-29
现行
SJ/Z 9021.3-1987
半导体器件的机械标准化 第3部分:集成电路外形图绘制总则
Mechanical standardization of semiconductor devices--Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
1987-09-14
现行
UNE-EN 60191-3-2001
Mechanical standardization of semiconductor devices -- Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits.
半导体器件机械标准化第3部分:集成电路外形图绘制通则
2001-01-31
现行
BS IEC 60191-2-1966+A21-2020
Mechanical standardization of semiconductor devices-Dimensions
半导体器件的机械标准化
2020-04-02
现行
BS EN 60191-6-18-2010
Mechanical standardization of semiconductor devices-General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for ball grid array (BGA)
半导体器件的机械标准化
2010-10-31
现行
IEC 60191-6-10-2003
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Dimensions of P-VSON
半导体器件的机械标准化.第6-10部分:表面安装半导体器件封装外形图制备的一般规则.P-VSON的尺寸
2003-11-19
现行
UNE-EN 60191-6-10-2004
Mechanical standardization of semiconductor devices -- Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Dimensions of P-VSON
半导体器件的机械标准化第6-10部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则P-VSON的尺寸
2004-05-28
现行
BS EN 60191-6-5-2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages-Design guide for fine-pitchball grid array (FBGA)
半导体器件的机械标准化 表面安装半导体器件封装外形图绘制通则
2001-11-15
现行
SJ/Z 9021.1-1987
半导体器件的机械标准化 第1部分:半导体器件图形绘制
Mechanical standardization of semiconductor devices--Part 1: Preparation of drawings of semiconductor devices
1987-09-14
现行
BS 05/30129010 DC
IEC 60191-1 ED.2. Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1. General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
IEC 60191-1第2版 半导体器件的机械标准化 第一部分 分立器件外形图绘制通则
2005-02-09
现行
BS EN 60191-6-12-2011
Mechanical standardization of semiconductor devices-General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA)
半导体器件的机械标准化
2011-08-31
现行
BS EN 60191-6-21-2010
Mechanical standardization of semiconductor devices-General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of small outline packages (SOP)
半导体器件的机械标准化
2010-12-31
现行
BS EN 60191-6-4-2003
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages-Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA)
半导体器件的机械标准化 表面安装半导体器件封装外形图绘制通则
2003-08-04
现行
BS EN 60749-1-2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-General
半导体器件 机械和气候试验方法
2003-07-07
现行
BS EN 60191-6-8-2001
Mechanical standardization of semiconductor devices. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages-Design guide for glass sealed ceramic quad flatpack (G-QFP)
半导体器件的机械标准化 表面安装半导体器件封装外形图绘制通则
2001-11-16
现行
IEC 60191-6-18-2010
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA)
半导体器件的机械标准化 - 第6-18部分:表面安装半导体器件封装外形图的准备通则 - 球栅阵列(BGA)设计指南
2010-01-07
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火,禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
5. 请注意仪表着装,衣冠整洁得体,言谈举止文明。
6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定,服从工作人员管理,自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间:
每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
乘车线路:
乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询:
赵老师 电话:010-58811369 邮箱:zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话:010-58811368 邮箱:liuyzh@cnis.ac.cn
取消
确认预约到馆