ISO 13084:2011-表面化学分析——二次离子质谱法——飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的标定 -国家数字标准馆

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Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer 表面化学分析——二次离子质谱法——飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的标定

发布日期： 2011-05-05

ISO 13084:2011规定了一种优化用于一般分析目的的飞行时间SIMS仪器质量校准精度的方法。它仅适用于飞行时间仪表，但不限于任何特定的仪表设计。为使用本程序可以优化的一些仪器参数以及适用于校准质量刻度以获得最佳质量精度的通用峰类型提供了指南。

ISO 13084:2011 specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight SIMS instruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is not restricted to any particular instrument design. Guidance is provided for some of the instrumental parameters that can be optimized using this procedure and the types of generic peaks suitable to calibrate the mass scale for optimum mass accuracy.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.40分析化学 - 化学分析

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 201/SC 6

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